Dualscope MPO測(cè)厚儀使用方法

1  開(kāi)  /  關(guān)儀器
說(shuō)明：儀器沒(méi)有專(zhuān)門(mén)的開(kāi)關(guān)。
打開(kāi)儀器
- 當(dāng)儀器放在工件上時(shí)自動(dòng)開(kāi)啟。如果儀器放在非鐵磁性或不導(dǎo)電材料上，顯示屏?xí)@示“Er6"，然后顯示四個(gè)水平短線而不顯示任何讀數(shù)。
- 另一種開(kāi)機(jī)方法是按 [OK]鍵。

請(qǐng)注意!
不要通過(guò)手指壓迫傳感器來(lái)開(kāi)啟儀器！這樣可能會(huì)導(dǎo)致錯(cuò)誤的測(cè)量結(jié)果。

關(guān)閉儀器 / 自動(dòng)關(guān)閉
一分鐘不使用，儀器會(huì)自動(dòng)關(guān)閉。 （關(guān)閉 = 儀器沒(méi)有任何顯示）。

2  測(cè)量涂鍍層厚度
1. 儀器開(kāi)啟后，把儀器放在要測(cè)量工件上，等待儀器發(fā)出測(cè)量聲響。這種方式可以自動(dòng)開(kāi)啟儀器。
2. 把儀器提離工件。
測(cè)量聲響后顯示讀數(shù)。說(shuō)明：若太早提起儀器(未有聲響前)，錯(cuò)誤信息 “Er6"會(huì)出現(xiàn)。重復(fù)步驟1。
3.  當(dāng)儀器已在開(kāi)啟狀態(tài)時(shí)， 讀數(shù)會(huì)馬上顯示。儀器放在測(cè)量工件上及提起后均有顯示。
   用 MP0 測(cè)量 
3  顯示儀器內(nèi)儲(chǔ)存的測(cè)量數(shù)據(jù)
儀器最多可以?xún)?chǔ)存999個(gè)測(cè)量數(shù)據(jù)。
1. 用 [?]鍵或 [?]鍵可翻看測(cè)量數(shù)據(jù)。
2. 翻過(guò)第一個(gè)或者最后一個(gè)測(cè)量數(shù)據(jù)后，屏幕將顯示 “- - - - “并維持1秒鐘左右。 
任何時(shí)候您都可以繼續(xù)測(cè)量。
4  刪除所有測(cè)量數(shù)據(jù)
1. 按 [?] 或 [?]鍵。
2. 按 [CAL]鍵。
“del" 即刪除將顯示 2 秒鐘。
3. 在“del"顯示的時(shí)候按[OK]鍵。
儀器內(nèi)所有測(cè)量數(shù)據(jù)將被刪除。
當(dāng) “del"不顯示的時(shí)候按 [OK]鍵將無(wú)任何反應(yīng)。
5  歸一化
歸一化用來(lái)對(duì)測(cè)量?jī)x器進(jìn)行調(diào)整。歸一化需要未鍍過(guò)的底材，而且底材的形狀和物料必須和被測(cè)量的工件一致。
說(shuō)明：歸一化會(huì)刪除所有的內(nèi)存數(shù)據(jù)。
歸一化儀器 (前提: 儀器處于開(kāi)啟狀態(tài))
1. 按 [CAL]鍵. 顯示 "Base" (即 “未鍍過(guò)的底材").
2. 在底材上測(cè)量五次左右
每次測(cè)量后，會(huì)顯示當(dāng)前的讀數(shù)。
3. 按兩次[OK] 鍵.
屏幕顯示 “Er17"，忽略它。
完成歸一化程序。
6  校準(zhǔn)
校準(zhǔn)需要有下面幾項(xiàng)東西：底材（形狀和底材物料要與待測(cè)部件一致）和一片標(biāo)準(zhǔn)片(儀器隨機(jī)的75 µm左右標(biāo)準(zhǔn)片)。 說(shuō)明：校準(zhǔn)將刪除內(nèi)存中的所有讀數(shù)。

校準(zhǔn)儀器（前提：儀器必須打開(kāi)）
1. 按 [CAL]鍵。
顯示 "Base" (即 “未鍍過(guò)的底材")
2. 在底材上測(cè)量五次左右.
每次測(cè)量后，會(huì)顯示當(dāng)前的讀數(shù)。
3. 按 [OK]鍵. 
顯示 0.00 和 STD1 (即校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)片 # 1).
4. 把校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)片放在底材上，并測(cè)量5次左右。
每次測(cè)量后，屏幕上會(huì)顯示當(dāng)前讀數(shù)。
5. 用 [?] 或 [?]鍵調(diào)整第4步的最后一個(gè)數(shù)值至標(biāo)準(zhǔn)片的標(biāo)稱(chēng)值， 如“75 µm"。 標(biāo)準(zhǔn)片的標(biāo)稱(chēng)值注明在標(biāo)準(zhǔn)片上。
6. 按 [OK]鍵。
完成校準(zhǔn)程序. 儀器返回測(cè)量狀態(tài).