菲希爾X射線測厚儀介紹

FISCHERSCOPE X-RAY XAN 215菲希爾X射線測厚儀是一款入門級能量色散型X射線熒光材料分析及鍍層測厚儀，通常用于對珠寶、錢幣和貴金屬等進行無損分析。菲希爾X射線測厚儀它適合分析貴金屬及其合金的成分以及測量鍍層的厚度，從元素氯（17）到鈾（92），可同時測定24種元素。正如所有的FISCHERSCOPE X-RAY菲希爾熒光射線測厚儀儀器一樣，減少了校準儀器所需的時間和精力。Si-PIN的*基本參數法，可以在沒有校驗標準片校正的情況下分析固、液態樣品的成分及測量樣品的鍍層厚度。

產品應用

既可以作為手持式設備使用，也可以作為封閉式的臺式機或是直接整合到生產線中。在配備了平板電腦后，XAN500同樣采用WinFTM軟件。基于基本參數法的WinFTM軟件不僅能進行材料分析，還能測量鍍層厚度，并可實現無校準（不需標準片）測量。