Helmut Fischer菲希爾涂層測厚儀儀器信息

菲希爾X射線測厚儀Fischer代理特點：

菲希爾X射線測厚儀優化的微區分析測試儀器

菲希爾X射線測厚儀根據X射線光學系統，可以對100 μm或更小的結構進行分析

菲希爾X射線測厚儀能量強度，從而實現出色的精度

即使對于薄鍍層，測量的不確定度也有可能做到 < 1 nm

只適用于平面的或是接近平面的樣品

底部C型開槽的大容量測量艙

菲希爾X射線測厚儀通過快速、可編程的 XY 工作臺進行自動測量

XDV-u鍍層厚度測量儀典型應用領域

測量印刷線路板、引線框架和芯片上的鍍層系統

測量細小部件和細電線上的鍍層系統

分析微小結構和微小部件的材料成分