FISCHERSCOPE X-RAY XDL 系列菲希爾X熒光射線測(cè)厚儀是應(yīng)用廣泛的能量色散型X射線鍍層測(cè)厚及材料分析儀。它是由大眾認(rèn)可的FISCHERSCOPE X-RAY XDL-B型儀器上發(fā)展而來的。與上一代相類似，它非常適用于無損測(cè)量鍍層厚度、材料分析和溶液分析，同時(shí)還能全自動(dòng)檢測(cè)大規(guī)模生產(chǎn)的零部件及印刷線路板上的鍍層。

FISCHERSCOPE X-RAY XDL菲希爾X熒光射線測(cè)厚儀采用了基本參數(shù)法，因此無論是對(duì)鍍層系統(tǒng)還是對(duì)固體和液體樣品，儀器都能在沒有標(biāo)準(zhǔn)片的情況下進(jìn)行測(cè)量和分析。其測(cè)量范圍為元素氯（17）到鈾（92）。適用于客戶進(jìn)行質(zhì)量控制、進(jìn)料檢驗(yàn)和生產(chǎn)流程監(jiān)控。

菲希爾X熒光射線測(cè)厚儀典型的應(yīng)用領(lǐng)域有：

測(cè)量大規(guī)模生產(chǎn)的電鍍部件

測(cè)量超薄杜策，例如：裝飾鉻

測(cè)量電子工業(yè)或半導(dǎo)體工業(yè)中的功能性鍍層

全自動(dòng)測(cè)量，如測(cè)量印刷線路板

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