菲希爾X射線測厚儀FISCHERSCOPE X-RAY XDAL237硬件配置

菲希爾X射線測厚儀FISCHERSCOPE X-RAY XDAL 237典型的應用領域有：

•  分析小于 的超薄鍍層

•  測量電子工業或半導體工業中的功能性鍍層

•  測定復雜的多鍍層系統

•  全自動測量，如在質量控制領域

•  分析焊錫中鉛含量

•  配備可選的 SDD 探測器：可測量鎳磷中的磷含量

設計用途：能量色散X射線熒光材料分析及鍍層測厚儀用來測量薄鍍層和微小結構，分析合金和微量組分。

形式設計：臺式儀器，測量門向上開啟可編程的工作臺和電調的軸馬達驅動的可更換的準直器和基本濾片

視頻攝像頭和激光點（類）定位測量點。

測量方向：從上到下。