菲希爾X射線測厚儀FISCHERSCOPE X-RAY XUL220測量原理

菲希爾X射線測厚儀FISCHERSCOPE X-RAY XUL220采用 X 射線熒光（XRF）技術，通過 X 射線激發樣品表面，分析鍍層厚度及材料成分。比例接收器實現高計數率，確保高精度測量，尤其適用于超薄鍍層（如 80nm 金鍍層）的檢測。

硬件配置

手動 XY 軸工作臺：支持 ±50mm 范圍內的精細移動，可精確定位微小區域（如 PCB 焊點），并適配大型工件。

高分辨率 CCD 攝像頭：實時顯示測量區域，疊加校準刻度和十字線，輔助定位并減少人為誤差。

可調 LED 光源：優化不同材質表面的成像效果，提升測量準確性。

超大測量室：內部尺寸 240×360×380mm，可容納大型工件，如汽車連接器或電器元件。

測量能力

鍍層系統：支持單 / 雙 / 三層鍍層（如 Zn/Fe、Ni/Cu/ABS）及雙元 / 三元合金鍍層（如 ZnNi、CuSn）的厚度測量與成分分析。

材料分析：可檢測電鍍液中金屬離子含量（如 Au、Ni、Cu），并對珠寶等貴金屬進行無損金含量分析。