X-RAY XULM240菲希爾測厚儀信息
更新時間:2026-01-29 點擊次數(shù):256次
菲希爾FISCHERSCOPE X-RAY XULM240是XULM-xym系列升級款,聚焦微小型工件無損檢測,優(yōu)異的微聚焦技術(shù),成為珠寶手表、電子元件等行業(yè)的優(yōu)選設(shè)備。儀器采用50kV/50W鎢靶微聚焦X射線管,配備4個電動切換準(zhǔn)直器(最小0.05×0.05mm)及3個自動切換濾片,最小測量點僅0.09×0.09mm,精準(zhǔn)適配細小零件、接插件及PCB板測量。
在測量精度上,Au厚度大于0.1μm時,標(biāo)準(zhǔn)片校準(zhǔn)誤差<±5%,無標(biāo)樣時<±10%,80nm金鍍層重復(fù)精度達2.5nm,波動率COV<5%。內(nèi)置500萬像素彩色視頻顯微鏡,38x-184x變焦范圍實現(xiàn)微米級定位,搭配WinFTM®專業(yè)軟件,支持?jǐn)?shù)據(jù)實時傳輸、報告生成與導(dǎo)出。
儀器沿用菲希爾基本參數(shù)法,無需校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)片即可分析固液態(tài)樣品成分及鍍層厚度,手動XY工作臺保障微小區(qū)域定位精準(zhǔn)。機身符合國際檢測標(biāo)準(zhǔn)及德國RoV法規(guī),測量距離0-27.5mm可調(diào),樣品大高度174mm,兼顧緊湊設(shè)計與寬泛檢測范圍,為高精度微區(qū)檢測提供可靠支撐。