EPK測(cè)厚儀Elektrophysik漆膜儀

Elektrophysik測(cè)厚儀測(cè)量范圍F型 (鐵基體)0 - 3000 μm

N型 (非鐵基體)0 - 2000 μm

FN型 (兩用探頭)0 - 2000 μm

Elektrophysik測(cè)厚儀精確度± (2 % 讀值 + 2 μm)

EPK MINITEST600最小曲率半徑5 mm (凸)25 mm (凹)

EPK測(cè)厚儀最小測(cè)量面積Φ 20 mm

MINITEST600最小基體厚度0.5 mm (F)50 μm (N)

EPK測(cè)厚儀顯示LCD 128×64 液晶

Elektrophysik測(cè)厚儀測(cè)量單位公制/英制 可選

Elektrophysik測(cè)厚儀校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)校準(zhǔn)，一點(diǎn)校準(zhǔn)，兩點(diǎn)校準(zhǔn)

Elektrophysik測(cè)厚儀統(tǒng)計(jì)分析實(shí)時(shí)統(tǒng)計(jì)；讀值個(gè)數(shù)，最大、最小、平均值，標(biāo)準(zhǔn)方差；最大批組數(shù)10個(gè)，每組存儲(chǔ)量1000個(gè)；自由設(shè)置塊統(tǒng)計(jì)數(shù)，實(shí)現(xiàn)二次統(tǒng)計(jì)功能

數(shù)據(jù)接口USB

電源2 節(jié)AA電池

體積主機(jī)：64 mm x 115 mm x 25 mm

探頭：Φ 15 mm x 62 mm

重量270 g

環(huán)境溫度主機(jī)： 0 - 50 ℃

探頭：-10℃ - 70℃

EPK測(cè)厚儀Elektrophysik漆膜儀