Fischer XAN 220菲希爾x射線測(cè)厚儀

FISCHERSCOPE X-RAY XAN 220/222,X射線熒光測(cè)量?jī)x，用于快速、無(wú)損分析黃金和銀合金：
X射線熒光測(cè)量?jī)x用于金銀合金快速無(wú)損分析及鍍層厚度測(cè)量，菲希爾FISCHERSCOPE X-RAY XAN 220是一種優(yōu)化的X射線熒光測(cè)量?jī)x器，用于珠寶、硬幣和貴金屬的無(wú)損分析。它特別適合分析貴金屬及其合金的成分和涂層厚度。在氯（17）到鈾（92）范圍內(nèi)可同時(shí)測(cè)定多達(dá)24種元素。FISCHERSCOPE X-RAY XAN 220和XAN 222符合DIN ISO 3497和ASTM B568。
FISCHERSCOPE XAN220產(chǎn)品特點(diǎn)：
•    菲希爾XAN220型X射線金屬材料分析儀為無(wú)損分析珠寶、錢幣和貴金屬特別優(yōu)化設(shè)計(jì)；
•    配備固定的準(zhǔn)直器和基本慮片，特別適用于貴金屬分析
•    配備高分辨率硅漂移探測(cè)器 (SDD)，適用于更復(fù)雜的多元素分析
•    由下至上的測(cè)量方向，可以簡(jiǎn)便地實(shí)現(xiàn)樣品定位

德國(guó)FISCHER X-RAY XAN 215入門(mén)級(jí)X射線熒光材料分析及鍍層測(cè)厚儀適合分析貴金屬及其合金的成分以及測(cè)量鍍層的厚度，通常用于對(duì)珠寶、錢幣和貴金屬等進(jìn)行無(wú)損分析。
德國(guó)FISCHER X-RAY XAN 215入門(mén)級(jí)X射線熒光材料分析及鍍層測(cè)厚儀產(chǎn)品簡(jiǎn)介：
FISCHERSCOPE X-RAY XAN 215是一款頗具性價(jià)比的入門(mén)級(jí)能量色散型X射線熒光材料分析及鍍層測(cè)厚儀，通常用于對(duì)珠寶、錢幣和貴金屬等進(jìn)行無(wú)損分析。
它特別適合分析貴金屬及其合金的成分以及測(cè)量鍍層的厚度，從元素氯(17)到鈾(92)，多時(shí)可同時(shí)測(cè)定24種元素。
正如所有的FISCHERSCOPE X-RAY 儀器一樣，本款儀器有著初設(shè)的準(zhǔn)確性以及長(zhǎng)期的穩(wěn)定性，這樣就顯著減少了校準(zhǔn)儀器所需的時(shí)間和精力。
*的Si-PIN的*基本參數(shù)法，可以在沒(méi)有校驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)片校正的情況下分析固、液態(tài)樣品的成分及測(cè)量樣品的鍍層厚度。