菲希爾測厚儀fischerscope x-ray xdl 230產(chǎn)品信息
名稱：XDL 230 X射線熒光鍍層測厚儀
產(chǎn)品用途
典型的應(yīng)用領(lǐng)域有：
● 測量大規(guī)模生產(chǎn)的電鍍部件
● 測量超薄鍍層，例如：裝飾鉻
● 測量電子工業(yè)或半導(dǎo)體工業(yè)中的功能性鍍層
● 測量印刷線路板
● 分析電鍍?nèi)芤?br/>FISCHERSCOPE X-RAY XDL 230是一款應(yīng)用廣泛的能量色散型X射線熒光鍍層測厚及材料分析儀。它適用于無損測量鍍層厚度、材料分析和溶液分析，同時還能檢測大規(guī)模生產(chǎn)的零部件及印刷線路板上的鍍層。
XDL230 有著良好的長期穩(wěn)定性，這樣就不需要經(jīng)常校準儀器
比例接收器能實現(xiàn)高計數(shù)率，這樣就可以進行高精度測量。
由于采用了FISCHER*基本參數(shù)法，因此無論是對鍍層系統(tǒng)還是對固體和液體樣品，儀器都能在沒有標準片的情況下進行測量和分析。

菲希爾測厚儀fischerscope x-ray xdl 230

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