FISCHERSCOPE X-RAY XAN菲希爾測厚儀

FISCHERSCOPE X-RAY XAN菲希爾測厚儀

菲希爾x射線測厚儀FISCHERSCOPE XDL特點

菲希爾x射線測厚儀堅固耐用的鍍層厚度測量設(shè)備，甚至可在較大的距離測量（DCM功能，范圍0-80 mm）工作

菲希爾x射線測厚儀固定光圈和固定濾光鏡

菲希爾xan用于1mm起大小的測量點

菲希爾xan底部C型開槽的大容量測量艙

菲希爾xan可編程的臺式設(shè)備，用于自動測量

fischer測厚儀標準X射線管，比例計數(shù)器  

fischer測厚儀FISCHERSCOPE XDL應用實例：

XDLM測量系統(tǒng)經(jīng)常用來測量接插件和觸點的各種底材上的Au/Ni，Au/PdNi/Ni，Ag/Ni或Sn/ Ni鍍層的厚度。通常功能區(qū)都是很小的結(jié)構(gòu)如或突起，測量這些區(qū)域必須使用很小的準直器或適合樣品形狀的準直器。例如測量橢圓形樣品時，就要使用開槽的準直器以獲得zui大的信號強度。

FISCHERSCOPE X-RAY XDL和XDLM系列與XUL和 XULM系列密切相關(guān)：兩者都使用相同的接收器， 準直器和濾片組合。配備了標準X射線管和固定準直器的XDL儀器非常適合大工件的測量。

XDLM型號的X射線源采用微聚焦管，可以測量細小的部件，對低輻射組分有較好的激勵作用。此外，XDLM配備了可自動切換的準直器和多種濾片可以靈活地為不同的測量應用創(chuàng)造的激勵條件。

德國菲希爾X射線測厚儀FISCHERSCOPE XDL典型應用領(lǐng)域

測量大規(guī)模生產(chǎn)的電鍍零件

防腐鍍層和裝飾性鍍層，如鎳/銅上的鉻

電鍍工業(yè)中電鍍液的分析

黃金、珠寶和鐘表工業(yè)

在無損無接觸的涂層厚度測量和材料分析領(lǐng)域，F(xiàn)ISCHERSCOPE X射線儀器是理想的選擇。自1983年以來，我們的X射線儀器已成為幾乎所有主要行業(yè)質(zhì)量測試的一個組成部分。我們的儀器以其精確性、準確性和耐用性而聞名。同時，F(xiàn)ISCHERSCOPE X射線的設(shè)計易于使用，并在測量的各個方面為您提供支持。 這使您可以專注于手頭上的質(zhì)量工作，而不是測量儀器上。

我們的X射線儀器配有專用的FischerWinFTM軟件，旨在規(guī)范測量過程。這包括控制X射線、實現(xiàn)測量的可追溯性、生成個性化測量報告以及與內(nèi)部網(wǎng)絡(luò)交互。

我們種類齊全的X射線設(shè)計用于高可靠性地測量不同的應用。電子、電鍍、汽車、黃金和珠寶等領(lǐng)域的公司以及更多的公司都依賴于FISCHERSCOPE X射線儀器進行質(zhì)量控制。現(xiàn)在就來看看我們的X光儀器并找出原因吧！